主要功能
INF-ADC
自动缺陷分类系统
INF-ADC简介
自动缺陷分类系统
随着半导体晶圆生产制造的技术复杂性增加，传统的人工缺陷检测无法满足需求。运用人工智能技术，搭配高效能的GPU计算能力，进行产品瑕疵检测和缺陷分类，可有效节约成本，提升良率。
广立微ADC (Automatic Defect Classification) 是基于图像识别和机器视觉等AI技术，支持对晶圆生产制造过程中不同工序、工艺、机台的缺陷图片进行自动分类的全套解决方案，界面友好，交互便捷，无需机器学习经验，支持用户零代码进行ADC模型的快速开发与应用。
广立微ADC (Automatic Defect Classification) 是基于图像识别和机器视觉等AI技术，支持对晶圆生产制造过程中不同工序、工艺、机台的缺陷图片进行自动分类的全套解决方案，界面友好，交互便捷，无需机器学习经验，支持用户零代码进行ADC模型的快速开发与应用。
.png)
产品优势
|
操作便捷性：
|
适用范围广：
|
|
分类精度高：
|
系统性能高：
|
